安規(guī)認(rèn)證其實(shí)是一種技術(shù)壁壘,世界各國(guó)為了限制別國(guó)的產(chǎn)品進(jìn)入本國(guó),都對(duì)安規(guī)有不同的要求,而且還是強(qiáng)制性的。為了保護(hù)用戶(hù)的權(quán)益,產(chǎn)品的安規(guī)檢測(cè)會(huì)越來(lái)越越廣,越來(lái)越受到重視。因此電子產(chǎn)品在正式銷(xiāo)售前,都需要進(jìn)行安規(guī)檢測(cè)這一重要環(huán)節(jié)。那電子產(chǎn)品常見(jiàn)安規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目有哪些呢?下面一起來(lái)看看吧。


無(wú)鉛釬料主要應(yīng)用于電子封裝、溫度保險(xiǎn)絲等領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)被連接材料之間的連接功能。如實(shí)現(xiàn)電子元器件和電路板間通過(guò)回流焊或者波峰焊實(shí)現(xiàn)連接。那么無(wú)鉛焊料的定義是什么呢?無(wú)鉛焊接的特點(diǎn)及技術(shù)難點(diǎn)又是什么呢?在整個(gè)SMT貼片的過(guò)程中,一個(gè)優(yōu)良的無(wú)鉛焊點(diǎn),對(duì)于整個(gè)PCBA成品的質(zhì)量都起著至關(guān)重要的作用。關(guān)于無(wú)鉛焊接工藝特點(diǎn)分析及技術(shù)存在的問(wèn)題跟大家一起來(lái)討論一下。


什么是鹽霧試驗(yàn)?鹽霧測(cè)試就是一種人造氣氛的加速抗腐蝕評(píng)估方法。它是將一定濃度的鹽水霧化;然后噴在一個(gè)密閉的恒溫箱內(nèi),通過(guò)觀(guān)察被測(cè)樣品在箱內(nèi)放置一段時(shí)間后的變化來(lái)反映被測(cè)樣品的抗腐蝕性,它是一種加速測(cè)試方法,其鹽霧環(huán)境的氯化物的鹽濃度,可是一般天然環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍,使腐蝕速度大幅提高,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗(yàn),得出結(jié)果的時(shí)間也大幅縮短。鹽霧測(cè)試辦理需要準(zhǔn)備哪些資料呢?為幫助大家深入了解,以下內(nèi)容由創(chuàng)芯檢測(cè)網(wǎng)整理,提供給您參考。


RoHS指令2011/65/EU(又稱(chēng)為RoHS 2.0指令)是對(duì)之前歐盟RoHS指令2002/95/ EC的重更新。新指令于2011年7月21日生效,并與新立法框架保持一致。它規(guī)定了限制在電氣和電子設(shè)備(EEE)中使用有害物質(zhì)。這樣的有害物質(zhì)是例如汞,鉛,鎘,多溴聯(lián)苯,鄰苯二甲酸二丁酯,鄰苯二甲酸二異丁酯,六價(jià)鉻,多溴聯(lián)苯醚等。


金屬的失效形式及失效原因密切相關(guān),失效形式是金屬失效過(guò)程的表觀(guān)特征,可以通過(guò)適當(dāng)?shù)姆绞竭M(jìn)行觀(guān)察。通過(guò)金屬失效分析,可提前了解到金屬材料或金屬設(shè)備的性能是否存在問(wèn)題,以避免在工程應(yīng)用中可能導(dǎo)致的事故危害。


狹義上的失效指的是機(jī)電產(chǎn)品喪失功能的現(xiàn)象,而失效分析則是分析診斷失效的模式、原因和機(jī)理,研究采取補(bǔ)救預(yù)測(cè)和預(yù)防措施的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng),同時(shí),與之相關(guān)的理論、技術(shù)和方法相交叉的綜合學(xué)科則稱(chēng)之為失效學(xué)。其實(shí),所謂的失效分析也是有很多個(gè)方面的包括的,那么這里所說(shuō)的分析都是有哪些方面呢?


據(jù)媒體報(bào)道,一家追蹤芯片行業(yè)假冒和欺詐行為的公司周二表示,嚴(yán)重的半導(dǎo)體短缺導(dǎo)致去年絕望的買(mǎi)家報(bào)告了創(chuàng)紀(jì)錄的電匯欺詐案件。


從信息技術(shù)的角度來(lái)看,光電開(kāi)關(guān)是獲取和轉(zhuǎn)換信息的工具,信息可以是電、磁、光、聲、熱、力、位移等。敏感元件是傳感器的核心部件,是用來(lái)感知外界信息并將其轉(zhuǎn)換成有用信息的元件。同一敏感元件可因裝置的不同而構(gòu)成不同的應(yīng)用光電開(kāi)關(guān)。光電開(kāi)關(guān)有幾種分類(lèi)?該如何檢測(cè)好壞?本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。


對(duì)于開(kāi)關(guān)電源等電子設(shè)備所用的元器件的質(zhì)量要求也是越來(lái)越高,而半導(dǎo)體器件的廣泛使用,它的壽命經(jīng)過(guò)了性能退化,最終導(dǎo)致了失效。失效分析可深入了解失效的機(jī)理和原因,并導(dǎo)致元件和產(chǎn)品設(shè)計(jì)的改進(jìn),這樣就有助于改進(jìn)電子系統(tǒng)的可靠性。


艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn) GJB4.4-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn) GJB4.3-1983





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