高低溫試驗用于電工、電子產品、元器件及其材料在高低溫環境下貯存、運輸和使用時的適應性試驗,電子產品是否能夠適應惡劣環境。高低溫實驗是產品可靠性的必測項目,那么高低溫會對產品有哪些不利影響?本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。


2D X-ray檢測如同“火眼金睛”,可以在不破壞樣品的情況下,將集成電路內部的那些肉眼不可及的結構形態呈現出來。不論是揪出仿冒芯片的“本相”,還是探查芯片失效的原因,2D X-ray檢測都是我們檢測工程師必不可少的利器。


材料疲勞試驗技術是指在交變載荷作用下,表征材料的力學性能衰減以致破壞現象的技術,被廣泛應用于金屬、橡膠、復合材料等材料及構件的抗疲勞性能研究中。疲勞試驗可以預測材料或構件在交變載荷作用下的疲勞強度,一般該類試驗周期較長,所需設備比較復雜,但是由于一般的力學試驗如靜力拉伸、硬度和沖擊試驗,都不能夠提供材料在反復交變載荷作用下的性能,因此對于重要的零構件進行疲勞試驗是必須的。本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。


失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產測試提供必要的補充,為驗證測試流程優化提供必要的信息基礎。進行失效分析往往需要進行電測量并采用先進的物理、冶金及化學的分析手段。失效分析的目的是確定失效模式和失效機理,提出糾正措施,防止這種失效模式和失效機理的重復出現。失效模式是指觀察到的失效現象、失效形式,如開路、短路、參數漂移、功能失效等。失效機理是指失效的物理化學過程,如疲勞、腐蝕和過應力等。下面主要對集成電路的失效分析步驟進行簡要分析,供大家參考。


電子元器件在使用過程中,常常會出現失效。失效就意味著電路可能出現故障,從而影響設備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。電子設備中大部分故障,究其最終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及時定位到元器件的故障原因,就能及時排除故障,讓設備正常運行。


由于疲勞斷裂通常是從機件最薄弱的部位或外部缺陷所造成的應力集中處發生,因此疲勞斷裂對許多因素很敏感,例如,循環應力特性、環境介質、溫度、機件表面狀態、內部組織缺陷等,這些因素導致疲勞裂紋的產生或速裂紋擴展而降低疲勞壽命。為了提高機件的疲勞抗力, 防止疲勞斷裂事故的發生, 在進行機械零件設計和加工時, 應選擇合理的結構形狀, 防止表面損傷, 避免應力集中。影響金屬材料疲勞強度的因素有多種,下面主要給大家介紹常見的一些疲勞強度影響因素。


X射線在放射學作為五種常規檢測方法之一,透射檢查可以提供鑄件檢測部位是否有缺陷和相關尺寸的照片。在工業應用中,X射線常被用于汽車配件制造缺陷檢測、鋁合金鑄件內部缺陷檢測、鎂合金鑄件質量篩查、汽車輪轂檢測、副車架檢測、鉸鏈質量檢測等,以保證所檢測的工業品具備較高的強度;同時,在焊縫探傷領域,我們常用X射線來進行鋼瓶焊縫探傷、管道焊縫探傷、鍋爐焊縫探傷、航空航天零部件焊縫探傷等。


工業CT檢測系統由X射線源、成像接收器、高精度轉臺、圖像處理系統、CT軟件系統等組成。近年來,工業CT憑借著強大的檢測技術以及逐漸廣泛的應用范圍,被譽為未來測量技術的趨勢。

