鹽霧試驗測試是一種利用鹽霧試驗設備來考核產品或金屬材料耐腐蝕性能的環境試驗。分為二大類,一類為天然環境暴露試驗,另一類為人工加速模擬鹽霧環境試驗。其中人工模擬鹽霧環境試驗是利用鹽霧試驗箱,在其容積空間內用人工的方法,造成鹽霧環境來對產品的耐鹽霧腐蝕性能質量進行考核。鹽霧環境的氯化物的鹽濃度,是天然環境鹽霧含量的幾倍或幾十倍,使腐蝕速度大大提高。


鹽霧試驗是對鹽霧試驗條件,如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等座的明確具體規定,另外還對鹽霧試驗箱性能提出技術要求。鹽霧測試的目的是為了考核產品或金屬材料的耐鹽霧腐蝕質量,而鹽霧試驗結果判定正是對產品質量的宣判,它的判定結果是否正確合理,是正確衡量產品或金屬抗鹽霧腐蝕質量的關鍵。


引腳,又叫管腳,英文叫Pin。就是從集成電路(芯片)內部電路引出與外圍電路的接線,所有的引腳就構成了這塊芯片的接口。引線末端的一段,通過軟釬焊使這一段與印制板上的焊盤共同形成焊點。引腳可劃分為腳跟(bottom)、腳趾(toe)、腳側(side)等部分。那么,IC芯片氧化如何檢測判別?下面主要對芯片管腳氧化及處理簡要分析,供大家參考。


在電路板焊接加工的過程中容易出現虛焊和假焊等焊接不良的情況,虛焊和假焊會嚴重影響產品的可靠性,極大的提高產品的維修成本。那么,造成虛焊和假焊的原因有哪些?電子零件虛焊如何改善?為幫助大家深入了解,以下內容由創芯檢測網整理,提供給您參考。


貼片電容形狀類似貼片電阻,通常貼片電容是白色的基體,也有大部分的鉭電解電容是黑色基體,但其正極一側也標示有白色的極性。貼片電容在PCB板上常見的電子元器件之一,雖說貼片電容的尺寸很小,看起來毫無作用,但是不是的,貼片電容的存在有他一定的運用與作用。那么,貼片電容會失效嗎?貼片電容損壞的主要失效原因都有哪些呢?本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。


晶振根據頻點、頻差、負載、有源無源、封裝、尺寸等多項參數的差異,晶振工作時容易發生頻率偏移導致不起振現象,造成電子產品無法正常工作。 以下內容幫助大家分析晶振不起振的原因,由創芯檢測網整理提供給您參考。


通常,為評估分析電子產品的可靠性所做的試驗稱為可靠性試驗。試驗結果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產品是否達到指標要求提供依據。根據可靠性統計試驗所采用的方法和目的,可靠性統計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗。


腐蝕氣體試驗是用于確定工作或貯存的室內環境對電工電子產品元件設備與材料特別是接觸件與連接件的腐蝕影響的實驗,利用二氧化硫,二氧化氮,氯氣,硫化氫等幾種氣體,在一定的溫度和相對的濕度的環境下對材料或產品進行加速腐蝕,重現材料或產品在一定時間范圍內所遭受的破壞程度。以及相似防護層的工藝質量比較,零部件、電子元件、金屬材料、電工,電子等產品的防護層以及工業產品的在混合氣體中的腐蝕能力。


機械零件的失效是指零件在使用過程中,零件部分或完全喪失了設計功能。零件完全被破壞不能繼續工作;或零件已嚴重損壞,若繼續工作將失去安全;或雖能安全工作,但已失去設計精度等現象都屬于失效。


首先其焊錫的溫度不宜過高,焊錫時間也不宜過長,防止晶體因此發生內變,而產生不穩定。晶振外殼需要接地時,應該確保外殼和引腳不被意外連通而導致短路。從而導致晶體不起振。保證兩條引腳的焊錫點不相連,否則也會導致晶體停振。對于需要剪腳的晶振,應該注意機械應力的影響。焊錫之后,要進行清洗,以免絕緣電阻不符合要求。

