國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì))批準(zhǔn)《鋼鐵及合金 硅含量的測(cè)定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法》等450項(xiàng)推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和4項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)修改單,現(xiàn)予以公布。


隨著一些重大無(wú)損檢測(cè)儀器的研制、開發(fā)列入國(guó)家發(fā)展專項(xiàng)計(jì)劃,我國(guó)現(xiàn)在的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)已在一個(gè)比過(guò)去任何時(shí)候都高得多的平臺(tái)上向前發(fā)展。無(wú)損檢測(cè)指以不破壞被檢測(cè)對(duì)象為前提,通過(guò)利用各類物理場(chǎng)來(lái)對(duì)被測(cè)結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷、性質(zhì)、狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)的方法。本文收集整理了一些無(wú)損檢測(cè)的相關(guān)知識(shí)匯總,期望本文能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。


工業(yè)CT需要計(jì)算機(jī)軟件的輔助,所以雖然層析成像有關(guān)理論的有關(guān)數(shù)學(xué)理論早在1917 年由J.Radon 提出,但只是在計(jì)算機(jī)出現(xiàn)后并與放射學(xué)科結(jié)合后才成為一門新的成像技術(shù)。在工業(yè)方面特別是在無(wú)損檢測(cè)(NDT)與無(wú)損評(píng)價(jià)(NDE)領(lǐng)域更加顯示出其獨(dú)特之處。因此,國(guó)際無(wú)損檢測(cè)界把工業(yè)CT 稱為最佳的無(wú)損檢測(cè)手段。


說(shuō)到我們身邊無(wú)處不在的IC芯片,很多人對(duì)它并不陌生。比如我們每天使用的手機(jī)、電視、電腦中的芯片,其實(shí)就是IC芯片,翻譯成中文就是集成電路。IC芯片的結(jié)構(gòu)是將電容、電阻等大量微電子元器件形成的集成電路放在基板上,從而制出芯片。芯片測(cè)試設(shè)備行業(yè)的現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì)芯片生產(chǎn)需經(jīng)過(guò)幾百步的工藝,任何一步的錯(cuò)誤都可能導(dǎo)致器件失效。因此,芯片檢測(cè)環(huán)節(jié)至關(guān)重要,采用好的芯片測(cè)試設(shè)備和方法是提高芯片制造水平的關(guān)鍵之一。


芯片,英文全稱是integrated circuit,簡(jiǎn)稱IC,是指載有集成電路的半導(dǎo)體元件。芯片猶如人的大腦一樣,接收信息,發(fā)出指令,控制著搭載芯片的機(jī)器。一般電子元件都有相應(yīng)的技術(shù)參數(shù),這些技術(shù)參數(shù)可以從電子芯片的標(biāo)準(zhǔn)和廠家提供的技術(shù)性資料中獲取。


電子元器件產(chǎn)業(yè)作為電子信息產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)力量, 更是新時(shí)代發(fā)展革新的重點(diǎn)。中國(guó)電子元器件的發(fā)展過(guò)程是從淺到深、從少到多, 直到累積一定程度, 才獲取優(yōu)異成績(jī)。據(jù)統(tǒng)計(jì), 當(dāng)前我國(guó)電子元器件行業(yè)總產(chǎn)值大約占據(jù)電子信息產(chǎn)業(yè)的百分之二十,電子元器件產(chǎn)業(yè)也成為引導(dǎo)我國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè)持續(xù)發(fā)展的基礎(chǔ)內(nèi)容。所以,電子元器件的失效分析成為其中很重要的部分。


電子產(chǎn)品開發(fā)是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程,一般來(lái)說(shuō)為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn),是為預(yù)測(cè)從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況,選定與市場(chǎng)環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后,設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時(shí)間,主要目的是盡可能在短時(shí)間內(nèi),正確評(píng)估產(chǎn)品可靠性。影響電子產(chǎn)品可靠性的因素很多,包括自然環(huán)境、機(jī)械環(huán)境和電磁環(huán)境等。可靠性設(shè)計(jì)工作就是圍繞這些環(huán)境因素,在設(shè)計(jì)和制造中采取相應(yīng)措施,以提高產(chǎn)品的防護(hù)能力和適用性,進(jìn)而保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量,提升電子產(chǎn)品的核心競(jìng)爭(zhēng)力。


電子行業(yè)進(jìn)入旺季,外加疫情突襲多個(gè)產(chǎn)業(yè)重地,IC市場(chǎng)缺貨漲價(jià)延續(xù)。8月份有多家IC原廠啟動(dòng)漲價(jià),數(shù)量雖然較6月和7月有所減少,但重點(diǎn)領(lǐng)域都沒落下,包括目前最緊俏的MCU、被動(dòng)元件,甚至手機(jī)SoC都有漲價(jià)出現(xiàn)。


可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為回故障分析、研答究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)。可靠性測(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。


一般電子元件都有相應(yīng)的技術(shù)參數(shù),這些技術(shù)參數(shù)可以從電子元器件的標(biāo)準(zhǔn)和廠家提供的技術(shù)性資料中獲取。元器件的檢測(cè)是一項(xiàng)必不可少的基礎(chǔ)性工作,如何準(zhǔn)確有效地檢測(cè)元器件的相關(guān)參數(shù),判斷元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事。必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,從而判斷元器件的正常與否,而且測(cè)試分也有不類型的測(cè)試。




